Autors
Autora grāmatas:
- Основы анализа поверхности и тонких пленок = Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis / L. C.Feldman, J. W. Mayet . - New York et al. : North Holland, 1986. : пер. с англ. / Л. Фелдман, Дж. Майер, ISBN: 5-03-0010117-3, 1989.
- Статистическая механика / Д. Майер, М. Гепперт-Майер ; пер. с англ. под ред. Д. Н. Зубарева, 1980.
